PICTIS/R为高速图像分析系统和内置的温和的干法重力分散系统的独特组合，适用于at-line或on-line对敏感或脆弱的干颗粒的测量。
图为PICTIS/R与进料装置VIBRI/L-GMP.

技术规格 和 尺寸.

PICTIS/R 是把高速图像分析系统QICPIC/R与温和重力干法分散系统GRADIS/L相结合的独特坚固的适用于at-line 或者 on-line应用的测量系统。 PICTIS/R可以使用手动或自动进料装置，例如由外部机器手操作把样品送到进样装置VIBRI/L-GMP的入口料斗。

样品颗粒以恒定的质量流由内置的进样装置送入重力分散系统。在此，粒子在地球引力作用下加速，并通过颗粒与颗粒之间以及颗粒与墙壁之间的碰撞在下落柱中得到分散。

此系统结合了传统的成熟技术以及QICPIC/R的创新技术：干法重力分散技术（成熟技术，在许多HELOS应用中得到证明）;脉冲光源具有小于1纳秒的极短的曝光时间，由此可得到即使是从该分散过程中产生的最快的颗粒的清晰图像（10米/秒将导致只有10纳米的运动模糊图像）; 每秒175帧帧速的高速照相机保证了在短的分析时间内取得高统计代表性的图像测量结果。

PICTIS/R 可测三个量程内4.2微米至7.51毫米的颗粒。原始的粒度数据将被分成10万个不同的级别，每个粒度级别的信息都可以以自定义的格式输出。预设的粒度表征组合可以对已完成的测试条件的样品进行更方便的后续测试。

WINDOX 软件提供了对粒度和粒形数据的并行计算。WINDOX的颗粒库可实现根据输入的条件对所有的颗粒进行筛选和过滤，该功能大大方便了颗粒分析的速度，尤其是当总颗粒数非常大比如说达到千万级的时候。

PICTIS/R 完全满足FDA的安全性要求，并符合21 CFR第11条要求。

PICTIS/R的优势

	对4.2微米至10,000微米的颗粒进行粒度和粒形分析。
	可与简单的取样探头直接组合使用。
	采用高效的分散系统而不是使用软件对颗粒数据进行删除或者更正。
	在高速粒子流中实现准静态图像分析。
	对处于量程内所有位置的颗粒均可获得轮廓清晰的图像。
	以黑色轮廓清楚地显示颗粒的边界，可实现对全透明颗粒的检测。
	由于允许大量的颗粒数通过测试区域，从而保证了非常低的统计错误率。
	客户可选择在10万个默认粒度区间内对需要的粒度范围进行自定义的限制。 软件中自带多种预设的粒度区间设置（例如 HELOS粒度区间，筛分粒度区间……）
	大量的分析评估模式可供选择。 允许在测试结束之后重新选择分析评估模式: 粒度分析：基于等效投影圆，费雷特直径等。 颗粒形状分析：球形度，纵横比以及弯曲率。 纤维状样品的分析：纤维长度，纤维直径，直线度和伸长率, 可实现对复杂结构的检测。 颗粒图库：显示和打印用户自定义筛选的颗粒以及其特性数据。 用户自定义分析评估: 只对用户通过筛选条件筛选出的颗粒进行粒度粒形分析。
	PICTIS/R 完全满足FDA的安全性的要求，并符合21 CFR第11条的要求。
	坚固的不锈钢控制箱支持主机在工业环境中的运行。
	GMP版本可供选择。

在实验室（离线）图像分析应用请参考QICPIC/R.