PICTIS/R Technical Specifications

技术规格

测量系统:	PICTIS/R	4.2微米 – 10,000微米
测量原理:	图像分析	脉冲光源，亚纳秒照明¹
分散系统:	GRADIS	重力分散系统
探测器:	高速照相机	2048 x 2048 像素帧速率高达175帧/秒
总量程:	光学模块	M8：11微米至22,528微米（7,510微米） M7：4.2微米至8,665微米（2,888微米），括号中的数值取自ISO13322-2
分析评估:	颗粒大小，颗粒形状，纤维的特性	等面积圆，边界矩形，费雷特直径，等周长圆,球形度，纵横比，弯曲度，纤维长度，纤维直径，直线度,伸长率
控制:	WINDOX 软件	WINDOWS 7
兼容性:	统一的软件操作	所有新帕泰克粒度分析仪器，例如QICPIC，HELOS，MYTOS，OPUS，NANOPHOX
质量保证体系:	认证; 参考样品	标准测试程序碳化硅 - P80（X₅₀=262微米）碳化硅 - P50（X₅₀=432微米）碳化硅 - P16（X₅₀=1666微米）
执行标准:	符合FDA标准	例如CFR21第11条