Unsere Seiten in deutscher Sprache Our pages in English language Our pages in English language 中文网页 한국 日本語版 Страница на русском языке

Техническая спецификация

аналитический модуль:

лазерная дифракция HELOS, MYTOS, MYTIS
затухание ультразвуковых волн OPUS, NIMBUS
анализ изображений QICPIC, PICTOS, PICTIS, PICCELL
спектроскопия кросс-корреляции фотонов NANOPHOX
контроль диспергирующих модулей: диспергирование с помощью сжатого воздуха RODOS, GRADIS, OASIS
суспензии, эмульсии QUIXEL, SUCELL, CUVETTE, LIXELL, MIXCEL
спреи SPRAYER, INHALER
контроль за подачей образца: подача образца семейство TWISTER
модули дозирования VIBRI, ASPIROS, LIXQI
обработка данных: быстрая база данных FirebirdTM,
пользовательская структура сервера
управление: ручное управление через компьютер дисплей, клавиатура, мышь
удаленный контроль TCP/IP, OPC в разработке
оценка: Лазерная дифракция по Фраунгоферу FREE (Fraunhofer Enhanced Evaluation)
Лазерная дифракция по Ми MIEE (Mie Extended Evaluation) опционально
анализ изображений эквивалентный размер описываемой окружности, диаметр Ферета, вписывание частицы в фигуру правильной формы, эквивалентного диаметра по периметру, длина и диаметр волокна, сферичность, соотношение сторон, выпуклость, прямота, вытянутость
затухание ультразвуковых волн суспензии и эмульсии, коррекция пузырей, функция расчета затухания
PCCS оценка авто-NNLS, NNLS, 2ой кумулянт,
объем или распределение интенсивности взвешенный

статистика измерений

среднее значение, стандартное отклонение
представление данных: отчеты, созданные пользователем диаграммы, списки, характеристики значений, пользовательские шаблоны
диаграммы: все: кривые распределения, тренды графика Q0(x)...Q3(x), интегральные, дифференциальные, фракции по размерам, lin, log, RRSB, тренд Q(t) опциональноl
анализ изображений: форма частиц, распределение по форме частиц. Sh(x), Q(Sh)
PCCS: функция корреляции Cf(x)
ИT-обеспечение: компьютер, совместимый с программным обеспечением Fujitsu-Siemens, Compaq,
WINDOWS 7/8
контроль процессов: стандартизованные интерфейсы подключение через PLC или ACPLT/KS протокол, OPC в разработке
контроль качества: соблюдение FDA CFR 21 Правило 11 контролируемый доступ к данным, проверка подлинности, электронная подпись

WINDOX 5
Контроль за управлением и расчет результатов
Программное обеспечение для анализа частиц по размерам и форме

Добавить в избранное Отправить коллегам Распечатать страницу