Unsere Seiten in deutscher Sprache Our pages in English language Our pages in English language 中文网页 한국 日本語版 Страница на русском языке

Техническая спецификация

аналитический модуль: HELOS BR:       0.1 мкм -   875 мкм
KR:       0.1 мкм - 8750 мкм
VARIO: 0.1 мкм - 8750 мкм
принцип: лазерная дифракция1 l = 632,8 нм
диспергирование: специальные модули аэродиспергирование, спреи, 
суспензии, эмульсии
измерение: мульти-элементный детектор частота 31 полукруглых элемента
2000/с, постоянный автофокус
расчет измерений: Fraunhofer Enhanced Evaluation FREE Mie Extended Evaluation
MIEE опционально
диапазоны: оптические модули R1 - R8
представление результатов:

точность
воспроизводимость

сравнимость 
x10, x50, x90

s < 2%       mean rel. SD to absolute value
s < 0.04% typical (repeated sample)
s < 0.3%   typical (riffled sample)
s < 1%      mean rel. SD
/Dx/ <         2.5% rel max. отклонение
< 5%         rel. отклонение в субмикронном диапазоне
управление: программное обеспечение WINDOX WINDOWS 7 / Vista Prof. / XP Prof.
приложения: мощность лазера
уровень/тип защиты
диаметр луча
(1/e²)
5 мВт
3R/IP40
R1 & R2 : 2.2 мм
R3-R5: 13 мм
R6 & R7: 26 мм
R8: 35 мм
QA-система сертификация
эталонный образец




валидация
стандартная тестовая процедура
SiC - F1200 (x50 = 4.5 мкм)
SiC - P600   ( x50 = 27 мкм)
SiC - P80     (x50 = 260 мкм)
SiC - P50     (x50 = 430 мкм)
подтверждено FDA

дальше ...

Добавить в избранное Отправить коллегам Распечатать страницу

HELOS
Анализ размера частиц методом лазерной дифракции
0.1 мкм - 8,750 мкм

symbol: laser diffraction