| 光学系统: | HELOS | BF: 0.1 微米 - 875 微米 KF: 0.1 微米 - 8750 微米 VARIO: 0.1 微米 - 8750 微米 |
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| 原理: | 激光衍射 | l = 632,8 nm | |
| 分散方法 | 不同的分散模块可选 | 气体分散，气雾剂，悬浮液，乳浊液 | |
| 检测: | 多元探测器 扫描频率 |
31个探测单元 2000/s,自动对焦准直 |
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| 数据计算: | Fraunhofer Enhanced Evaluation FREE | Mie Extended Evaluation MIEE as an option |
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| 测量范围： | 不同的镜头可选 | R1 到 R8 | |
| 性能: | accuracy 重复性 可比性 x10, x50, x90 |
s < 2% mean rel. SD to absolute value s < 0.04% 典型值 (同一样品重复测试) s < 0.3% 典型值 (多次取样) s < 1% 同类仪器相对平均值 SD计算模式 /Dx/ < 2.5% 相对最大偏离 < 5% 亚微米颗粒相对偏差 |
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| 操作软件: | WINDOX software | WINDOWS 7 / Vista Prof. / XP Prof. | |
| 其他参数: |
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5 mW 3R/IP40 R1 & R2 : 2.2 mm R3-R5: 13 mm R6 & R7: 26 mm R8: 35mm |
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| 质量保证 | 检验 参考样品 认证 |
标准测试程序 SiC - F1200 (x50 = 4.5 微米) SiC - P600 ( x50 = 27微米) SiO2 - F34 (x50 = 260 微米) SiC -P 50 (x50 = 430微米) 符合FDA 要求 |
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