| 측정기: | HELOS | BF: 0.1 ~ 875 micron KF: 0.1 ~8750 micron VARIO: 0.1 ~ 8750 micron |
| 이론: | 광회절 | l = 632,8 nm1 |
| 분산: | 모듈식 | 건식분산, 분무, 액상유화체, 유화액 |
| 측정: | 다원소 검출기 측정빈도 |
31 원소 반원형 검출기 초당 2000회, 연속 자동정렬장치 |
| 평가: | Fraunhofer | MIE (선택사항) |
| 범위: | optical modules | R1 ~ R8 |
| 성능: | 반복성 재현성 x10, x50, x90 |
s < 0.04% 일반 (연속시료) s < 0.3% 일반 (축분시료) s < 1% mean 비교표준편차 /Dx/ < 2.5% 최고 비교표준편차 < 5% Submicron영역에서의 비교편차 |
| 제어: | WINDOX 소프트웨어 제어 | WINDOWS XP Pro / 2000 |
| 응용: | 레이져출력 보안등급 및 종류 |
5 mW 3A/IP40 R1 및 R2 : 2.2 mm R3 ~ R5: 13 mm R6 및 R7: 26 mm R8: 35mm |
| 품질보증: | 보증서 표준시료 검증 |
standard test procedure SiC - F1200 (x50 = 4.5 micron) SiC - P600 ( x50 = 27micron) SiO2 - F34 (x50 = 220micron) SiC -P 50 (x50 = 420micron) FDA 승인 |
추가정보 ...
|
광회절 측정 |
| 개요 |
| HELOS |
| MYTOS |
| MYTIS |
|
분산장치 |
| OASIS/L |
| OASIS/M |
| RODOS |
| RODOS/M |
| RODOS/L |
| GRADIS/L |
| SUCELL |
| QUIXEL |
| LIXELL |
| CUVETTE |
| SPRAYER |
| INHALER |
|
소프트웨어 |
| WINDOX 5 |
|
보조장치 |
| 컴퓨터 |
| VIBRI/L 계열 |
| VIBRI 계열 |
| ASPIROS/L |
| ASPIROS |
| 진공흡입장치 |
| SVA |
| ROTOR/L |
|
관련정보 |
| 간행물 및 논문 |
모든 HELOS/BF 및 HELOS/KF제품은
일급레이져제품임.
직접 쳐다보지 마십시요.
모든 HELOS /KF-Vario제품은
일급레이져제품임.
직접 쳐다보지 마십시요.