| 측정기: | HELOS | BR:        0.1 ~ 875 micron KR: 0.1 ~8750 micron VARIO: 0.1 ~ 8750 micron | 
| 이론: | 광회절 | l = 632.8 nm1 | 
| 분산: | 모듈식 | 건식분산, 분무, 액상유화체, 유화액 | 
| 측정: | 다원소 검출기 측정빈도 | 31 원소 반원형 검출기 초당 2000회, 연속 자동정렬장치 | 
| 평가: | Fraunhofer Enhanced Evaluation FREE | Mie Extended Evaluation MIEE as an option | 
| 범위: | optical modules | R1 ~ R8 | 
| 성능: | accuracy 반복성 재현성 x10, x50, x90 | s < 2%       mean rel. SD to absolute value s < 0.04% typical (repeated sample) s < 0.04% 일반 (연속시료) s < 0.3% 일반 (축분시료) s < 1% mean 비교표준편차 /Dx/ < 2.5% 최고 비교표준편차 < 5% Submicron영역에서의 비교편차 | 
| 제어: | WINDOX 소프트웨어 제어 | WINDOWS 7 / Vista Prof. / XP Prof. | 
| 응용: | 레이져출력 보안등급 및 종류 광원크기r (1/e²) | 5 mW 3R/IP40 R1 및 R2 : 2.2 mm R3 ~ R5: 13 mm R6 및 R7: 26 mm R8: 35mm | 
| 품질보증: | 보증서 표준시료 검증 | standard test procedure SiC - F1200 (x50 = 4.5 micron) SiC - P600 ( x50 = 27micron) SiO2 - F34 (x50 = 260micron) SiC -P 50 (x50 = 430micron) FDA 승인 | 
추가정보 ...
| 광회절 측정 | 
| 개요 | 
| HELOS | 
| MYTOS | 
| MYTIS | 
| 분산장치 | 
| OASIS/L | 
| OASIS/M | 
| RODOS | 
| RODOS/M | 
| RODOS/L | 
| GRADIS/L | 
| SUCELL | 
| QUIXEL | 
| LIXELL | 
| CUVETTE | 
| SPRAYER | 
| INHALER | 
| 소프트웨어 | 
| WINDOX 5 | 
| 보조장치 | 
| 컴퓨터 | 
| VIBRI/L 계열 | 
| VIBRI 계열 | 
| ASPIROS/L | 
| ASPIROS | 
| 진공흡입장치 | 
| SVA | 
| ROTOR/L | 
| 관련정보 | 
| 간행물 및 논문 | 
